資料ダウンロード
prototype

試作

開発試作から評価・解析までを
ワンストップでサポート!

お客様の細かなニーズに対応するため、
半導体の試作受託を行っております。

大分デバイステクノロジー(ODT)で完結!

フェーズ

フェーズ
400社・10,000件を超える試作実績! 1個・小ロットからでも開発試作の委託可能!

長年培った「技」で特殊な半導体組立も実現いたします。応用が必要な特注試作品もお気軽にご相談ください。

今すぐ相談する お問い合わせ

ODTの試作と評価

お客様で開発半導体ウエハ・チップを、評価用のサンプルとしてパッケージ化する試作受託サービスを展開しております。
パワーデバイスの電気的特性評価、パワーサイクル試験も可能です。

お客様

評価対象ウェーハ

評価対象ウェーハ
矢印
大分デバイステクノロジー(ODT)
パッケージ試作
パッケージ試作
電気的特性評価
電気的特性評価
パワーサイクル試験
パワーサイクル試験

このようなご依頼も対応可能です!

チップのアドレスを指定したい
搭載チップをウェハ面内アドレスやチップトレイの収納位置でご指定が可能です。
どのチップが搭載されているか、トレースが可能な状態でパッケージ化します。
一部の工程だけ依頼したい
ウェハ加工(裏面研削、ダイシング)のみ、パワーサイクル試験のみなど単工程でのご依頼も承っております。
開発中材料の評価をしたい
使用条件などの情報をいただければパッケージングや各種評価・測定を承っております。

ODTの試作一例

微細・高精度、制限条件のあるデザイン仕様などあらゆる開発・試作を行ってきました
試作例1
試作例2
試作例3
試作例4
試作例5

セラミックパッケージ/PCB基板

試作用途に適した汎用パッケージ DIP:デュアル・インライン・パッケージ
DIP:デュアル・インライン・パッケージ ※Dual In-line Package
高性能・高発熱デバイス向け PGA:ピン・グリッド・アレイ
PGA:ピン・グリッド・アレイ ※Pin Grid Array

【試作用途】

EM(エレクトロマイグレーション)評価、
長期信頼性評価

電子回路の基板
プラットフォーム
PCB:プリント基板
PCB:プリント基板
※Printed Circuit Board
直実装の
低コスト技術
COB:チップ・オン・ボード
COB:チップ・オン・ボード
※Chip On Board
各種TOパッケージ 各種TOパッケージ
パワーディスクリート
パワーモジュール
FLAP-SS
ケースタイプパワーモジュール
ケースタイプパワーモジュール

【試作用途】

チップ特性評価・動作試験

プラスチックパッケージ

SOP、VSSOP、 TSSOPなどプラスチックパッケージも対応可能です。

パッケージ SOP
※Small Outline Package
VSSOP
※Very Thin Shrink Small Outline Package
TSSOP
※Thin Shrink Small
Outline Package
SOP-14pin
SOP-16pin
SOP-20pin
VSSOP-14pin
VSSOP-16pin
VSSOP-20pin
TSSOP-14pin
端子数 14pin 16pin 20pin 14pin 16pin 20pin 14pin
ボディサイズ(mm)
X 10 10 13 4 4 5 5
Y 5.3 5.3 5.3 3 3 3 4.4
t 1.5 1.5 1.5 0.8 0.8 0.8 1
端子
ピッチ
1.27 1.27 1.27 0.5 0.5 0.5 0.65
コード SOP14-P-300-1.27 SOP16-P-300-1.27 SOP20-P-300-1.27 VSSOP14-P-0030-0.50 VSSOP14-P-0030-0.50 VSSOP14-P-0030-0.50 TSSOP14-P-0044-0.65A
対応
チップサイズ
2.5×3.0mm 3.0×5.0mm 2.2×5.0mm 1.4×1.8mm 1.4×1.8mm 1.4×2.0mm 1.4×1.6mm
リード材 Cu,Pd-PPF Cu,Pd-PPF Cu,Pd-PPF Cu,Pd-PPF Cu,Pd-PPF Cu,Pd-PPF Cu,Pd-PPF
詳細

マルチチップに対応しやすくなっておりますので、SiP(System in Package)などの開発段階での試作等にもご利用ください。

SOPタイプの14~20Pinのパッケージでは、業界最小のパッケージです。小スペース化に最適です。

ピン間隔が狭く、薄型でコンパクトな設計が特徴のパッケージです。電源管理ICやセンサなど幅広い分野で使用されております。(16/20pinは対応不可)

各種パッケージの開発試作・組立試作を
今すぐ相談する
お問い合わせ

セラミックパッケージの再利用納期・費用を短縮!

大分デバイステクノロジーでは、再生セラミックパッケージの活用により、試作・開発の納期を大幅に短縮いたします。新品パッケージを手配する場合、調達期間が長くなる傾向がありますが、再生品を利用することで素早く納品対応が可能です。
また、再生品の使用によりコストも削減でき、より効率的な開発を実現します。
価格は1個800円から!(※仕様により変動)
詳細な金額や納期についてはお気軽にお問い合わせください。

新品のセラミックパッケージ

新品のセラミックパッケージ

使用済みのセラミックパッケージ

使用済みのセラミックパッケージ

再生後のセラミックパッケージ

再生後のセラミックパッケージ

再生工程

再生パッケージ(再生PKG)として生まれ変わります。
その後、お客様からチップをご支給いただければ、
再生パッケージに搭載して納品いたします。

01
再生前

再生前

02
ワイヤー除去後

ワイヤー除去後

03
チップ除去後

チップ除去後

04
搭載チップ情報除去後

搭載チップ情報除去後

05
ダイボンド接着剤除去後

ダイボンド接着剤除去後

大分デバイステクノロジー
の製品紹介

ケースタイプモジュール・フルモールドタイプモジュール・パワーディスクリートタイプなど、
幅広いパッケージでのご対応が可能です。

製造プロセス

多様化するパッケージ形態にお応えすべく、
製造プロセスの技術向上に努めております。

前工程
※お客様からお預かりしたサンプル

  工程 詳細 プロセス マテリアル
1
裏面研削
(バックグラインド)
ウェーハダイシング
ウェーハの裏面をパッケージデザインにあわせて薄くします。チップサイズ、もしくは指定のサイズに個片化します。 ブレード ウェーハ径:
Max Φ12inch
2
ダイボンディング
(ダイアタッチ)
チップが所定の位置からズレないよう、高精度に位置決め・固定し、後続に耐える機械強度と熱・電気特性を確保します。 ウェーハ径
DieSize
ウェーハ径:Max Φ12inch
DieSize:□0.25~20mm
加熱タイプ 共昌接合:Max400℃
半田(N2有):ディスペンス・プリフォーム
常温(ペースト) ペースト材:
導電性・絶縁性
3
ワイヤーボンディング
チップとリードフレームや基板・パッケージをボンディングワイヤーで電気的に接続し、低抵抗・高信頼でモールド等に耐える接合を形成します。 ボール
ボンディング
Wire径:Φ15~38μm
Wire材:Au.Cu.AL.Ag
Wire長:0.2~9.0mm
Pad Size:Min □ 30μm
Pad Pitch:Min 40μm
ウェッジボンディング
(細線タイプ)
Wire径:Φ15~80μm
Wire材:Au.Cu.AL
Wire長:0.2~19.0mm
Pad Size:Min □ 50μm
Pad Pitch:Min 60μm
ウェッジボンディング
(太線タイプ)
Wire径:Φ100~500μm
Wire材:AL
Wire長:2.0~40mm
ウェッジボンディング
(リボンタイプ)
Wire幅:0.5~2.0mm
Wire厚:0.1~0.3mm
Wire材:AL
ire長:2.0~40mm
4
モールド(封止)
チップを樹脂で一体封止し、機械強度・耐環境性・電気的保護を付与します。 トランスファ
モ―ルド
リードフレーム:
Max(45×228mm)
ポッティング ディスペンス:
2軸ヘッド搭載
5
トリム
(リードフレームカット)
モールド後のストリップからダムバー/タイバーなどを切断(トリム)します。 トリミング
フォーミング
PKG Size:
□3.0~□15.7
6
電気テスト
電圧や電流などの定常状態におけるデバイスの動作特性を測定・解析します。 カーブトレーサ 電圧:Max:3,000V
電流:Max:1,000A
7
出荷形態
所定の形態でサンプルを梱包し、出荷いたします。 テープリール PKG Size:
3.0×4.0mm~
5.3×12.8mm
チューブ PKG Size:
Max:5.3×12.8mm
トレー PKG Size:
□12.0~□28.0
各種パッケージの開発試作・組立試作を
今すぐ相談する
お問い合わせ

ODTの評価・解析

電気的特性の評価(静特性・スイッチング特性)

パワーデバイスや半導体モジュールの性能を定量的に把握するための重要な試験です。

電気的特性の評価

パッケージインダクタンスの検証

パッケージインダクタンスの検証

パワーデバイスの性能・信頼性を左右する重要な評価項目で、特に高速スイッチングを行うSiCやGaNなどの次世代パワー半導体では非常に重視されます。
パッケージインダクタンスとは、半導体チップと外部端子(リードフレームやボンディングワイヤなど)との電気的接続部分に存在する寄生インダクタンスのことです。

SAT(超音波顕微鏡)にて構造解析

ダイシェア・ワイヤープル・シェア・ツィザープル等の各種強度試験

SATは、超音波を使ってパッケージ内部の構造を非破壊で観察する装置です。
パッケージを切断せずに内部の接着状態や欠陥を検出できるため、信頼性評価・工程検査に広く使用されます。

パワーサイクル試験(信頼性評価)

パワーサイクル試験のみの受託も可能です。

パワーサイクル試験(信頼性評価)
パワーデバイスなどの評価・解析を
今すぐ相談する
お問い合わせ

納品フロー

STEP01
お問い合わせ

お問い合わせ

ご相談内容をこちらからお問い合わせください。

STEP02
ご回答ヒアリング日程調整

ご回答
ヒアリング日程調整

担当のエンジニアから、初回のご回答を差し上げます。

STEP03
ヒアリング

ヒアリング

開発可能な場合は、ヒアリングにて詳細をお伺いいたします。

STEP04
お見積りご提出

お見積りご提出

お見積りと納期をご提出しますので、御社内にてご検討ください。

STEP05
ご発注

ご発注

お見積りに沿ってご発注を頂きます。

STEP06
納品

納品

要件を満たしつつ信頼性の高い製品を納品いたします。

よくある質問

セラミックパッケージの調達から対応してもらえますか?

可能ですが、在庫を保有しておりませんので、調達からの対応となります。

依頼するにあたって資料の準備が必要ですか?

試作依頼書フォーマットがございます。"こちら"よりお問い合わせください。

単発の試作のみの案件も対応してもらえますか?

はい、喜んで承ります。

組立レイアウトが固まっていませんが、相談から対応してもらえますか?

はい、弊社技術スタッフが丁寧に対応します。

試作の立ち合いは可能ですか?

はい、可能です。日程調整の上、対応いたします。

大分デバイステクノロジー
の設計開発

大分デバイステクノロジー
のサービス

大分デバイステクノロジーのサービス大分デバイステクノロジーのサービス
  • intertek
  • 地域未来牽引企業
  • DBJ BCM格付
  • 健康経営優良法人
  • 再エネECO極
  • エコアクション21
今すぐ相談するお問い合わせ
くわしい資料をGET資料ダウンロード
Copyright©2025
Oita Device Technology Co.,Ltd. all rights reserved.