大分デバイステクノロジー株式会社

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エンジニアサポートサービス

デバイス開発時における初期特性評価やウェーハ配線などの長期信頼性評価、及び解析用としてセラミックパッケージへの組立サービスのほかに、「エンジニアリングサポートサービス」を行っております。
お客さまの細かなニーズに対応するため、試作案件の一部工程のみを弊社にて代行するサービスです。
EM(ElectroMigration)、参加膜経時破壊(TDDB)、TEG(Test Element Group)などのご評価にもお役立て下さい。
ご評価を負えられたパッケージ済品からチップを取り出して、セラミックパッケージの再利用も可能です。

セラミックパッケージ組立サービス

※1:チップトレース
ウェーハ上のチップアドレスをトレース出来るよう、搭載チップのアドレスをセラミックパッケージに罫書きを実施し、判別可能な状態にします。

※2:簡易シーリング
チップ~ワイヤを保護する為に、簡易的にフタを取り付けます。
取り外し可能なフタですので、チップへの物理的アクセスが可能です。

※3:パッケージリユース
セラミックパッケージは、弊社でチップを剥がすことで、再利用が可能です。
パッケージの調達コストを低減することが出来ます。

プロセス、使用部材を柔軟に対応

試作専用の装置を多数保有し、経験を積んだ熟練工が対応します。ルーティン工程に制限されることなく、装置のみでは不可能なプロセスや材料・仕様にも柔軟にお応えします。

極薄チップ対応

20~30um厚などの極薄チップは、装置での取り扱いが難しくなりますが
弊社の経験を積んだスタッフが、高精度を伴ったマニュアル作業にて対応します。

多積層実装

導電性/絶縁性樹脂、DAFなどの各種接着材で極薄チップを積層します。

チップ御支給形態

ゲルパック、シート貼付けなどで、ご支給ください。

各種接着剤でのダイボンド

通常よく用いられる、導電性樹脂・絶縁樹脂以外の接着材料も対応が可能です。

耐熱ポリイミドフィルム

特性確認・評価後に、取り外し可能です。プラスチックパッケージ搭載など、ICソケット代わりとして
もご利用可能です。150℃まで耐熱性があります。取外しは、弊社にご依頼ください。

ダイボンド・ワイヤボンド部の保護

樹脂のポッティングでの封止と、取り外し可能なカバーの取付けが可能です。
弊社でのパッケージング後、機能・特性評価/確認の内容にあわせて、ご指示ください。

ポッティング

微細・高精度、制限条件のあるデザイン仕様への対応

開発/試作段階は、実装デザインが仕様上制限されてしまう
ことがよくあります。微細・高精度が求められるものや、
ボンディングワイヤが長くなってしまうものなど柔軟に対応
します。また、I/O配線・アサインの制限で、ワイヤボンデ
ィングが困難なものも、設計提案します。

クロス/オーバーのワイヤボンディング

ボンディングワイヤのループ高さ、形状を細かく設定・制御することで、
高精度でのワイヤ結線が可能です。

組立サービスから再利用サービスまで

デバイス開発時における初期特性評価やウェーハ配線信頼性評価、 および解析の用途としてセラミックパッケージへの組立サービスを行っております。 またご評価/試験を終えられたパッケージ済品からチップを取り外し、次回ご依頼時での再利用のサービスも行っております。

パッケージタイプ:DIC・QFC・PGA・LCC等

開発コスト低減の提案(パッケージの再利用について)

セラミックパッケージのリユースを実施しております。 ご評価済のパッケージをご送付ください。パッケージからチップを取り出しお客様のパッケージご調達にかかる費用・時間を削減出来ます。

開発コスト低減の提案

ガラスエポキシ基板

チップ・ワイヤの保護も可能です

COB(Chip on Board)等の基板への組立サービスも行っております。樹脂ポッティングによるチップ・ワイヤの保護も対応可能です。

チップ・ワイヤの保護も可能です

実装事例

パッケージ開封品のワイヤボンディング

パッケージ封止材を開封したチップへの再ワイヤボンディングをします。
PADの状態が良くないものは、
ウェッジボンディングが有効になります。

ウェッジボンド事例

狭PADボンディング

マルチチップのダイボンド

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